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交流阻抗仪在瞬态光谱法（DLTS）测试应用
- 分类：Blogs
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- 发布时间：2020-05-21 13:32
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交流阻抗仪在瞬态光谱法（DLTS）测试系统组成
应用说明
交流阻抗仪在瞬态光谱法（DLTS）测试应用DLTS是一种功能强大且常用的技术，用于研究半导体中que陷的浓度和载流子结合能。该技术涉及在不同温度下测量电容瞬变。zui初将半导体结反向偏置，以耗尽大部分移动电荷载流子。随后，当反向偏置电压通过正电压脉冲短暂设置为零时，空陷阱被填充。在正电压脉冲之后，结再次被反向偏置：电荷逐渐散发出来并引起电容变化。
测量方法
可以使用MFIA阻抗分析仪在很长的时间间隔内以高时间分辨率测量得到的电容瞬变，以捕获完整的瞬变。
MFIA可以在10 us（在1 MHz）的时间尺度上测量从1 mHz到5 MHz（不仅在1 MHz）的频率范围内的电容瞬变。LabOne的数据采集（DAQ）模块®可以通过外部脉冲发生器或通过内部产生的偏置脉冲来触发。借助DAQ模块，由于具有数据缓冲区，因此可以在高时间分辨率和长时窗（包括触发事件之前的稳定状态）下可靠地捕获整个瞬态。
MFIA中包含的双通道锁定放大器可用于捕获电流瞬变以及电容瞬变。与电容测量相比，这可以在更短的时间范围内实现，但不包括有关绝dui电容的信息。
选择瑞士Zurich Instruments 交流阻抗仪优势
l MFIA具有集成的数字化仪，更宽的电容测量范围和灵活的工作频率，因此可以认为是停产的Boonton 7200的替代产品。此外，LabOne附带了许多工具，可让您监视和优化实验。
l LabOne支持的强大API使MFIA能够通过模拟I / O集成到复杂的实验设置和温度控制中。
l 八级电流输入可确保在施加反向偏置脉冲时仪器不会过载。
参考资料
瑞士Zurich Instruments 官网资料整理
