交流阻抗仪半导体芯片测试应用
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- 发布时间:2020-05-21 16:01
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相关产品:MFIA,MF-IA,HF2TA,HF2LI,HF2IS
应用领域
l 半导体芯片测试与表征
l 模拟混合信号性能测量
l 太阳能电池和LED(发光二极管)的表征
l 在晶片级测量PCM(过程控制),例如电阻,电容,谐振和其他电参数
l 半导体键合优化。
目的
执行高通量半导体器件测试和表征。
优势
在交流阻抗仪半导体芯片测试应用中,HF2IS提供了2个信号发生器,2个测量单元和几种测量工具,可以低成本满足精度要求,从而提供了一种经济的测试和测量解决方案。
描述
交流阻抗仪半导体芯片测试应用
对半导体特性的新要求包括以高通量方式对被测样品进行测量。这是增加数据点数量,减少漂移影响并保持测量周期较小所需的。对于不希望在生产测试仪上执行测试序列并且正在寻求便捷,经济高的测试和测量解决方案的工程师,HF2IS提供快速,灵活的信号生成功能,以及信号采集功能。HF2IS提供了直接在仪器内部运行用于信号生成和响应分析的软件的选项,从而在µHz至50 MHz的宽频率范围内都具有吞吐量和效率。
HF2IS阻抗谱仪的主要特性
灵活的生成,数据采集,快速的重复和参数更新,频率步进,超低噪声操作,高稳定性时钟
l 1 µHz至50 MHz频率范围
l 2个测量单元,2个高频发生器
l 8个同时频率
l 2个辅助输入,4个辅助输出,32个数字I / O(DIO)
l 实时可编程性
l 集成频率响应分析仪,FFT频谱分析仪和示波器
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瑞士Zurich Instruments 官网资料整理
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