易于安装 基于视窗结构的软件，操作简介 先进的光学设计，以确保能发挥出最佳的系统性能 基于阵列设计的探测器系统。

图片：　　 　　简介：　　MSP系列薄膜分析产品来自美国AST公司，其可以实现微小区域薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的测量，同样对于材料NK参数也可以实现测量，为人们针对薄膜微小区域进行分析提供了极大便利。　　产品详情： 基本功能1，针对微小区域测试单、多层透光薄膜的厚度、折射率以及吸收系数2，实现薄膜均匀性检测、实现色度、反射率、透射率测试。产品特点l  强大的数据运算处理功能及材料NK数据库

图片：　　 　　简介：　　MSP系列薄膜分析产品来自美国AST公司，其可以实现微小区域薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的测量，同样对于材料NK参数也可以实现测量，为人们针对薄膜微小区域进行分析提供了极大便利。基本功能1，针对微小区域测试单、多层透光薄膜的厚度、折射率以及吸收系数的测量2，实现薄膜色度、反射率、透射率的检测产品特点l  强大的数据运算处理功能及材料NK数据库；1  简便、易行的可视化